阻抗分析儀測(cè)試功能：

　　1 阻抗測(cè)試

　　測(cè)試儀可快速測(cè)出各型電路板或功能模塊的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間的阻抗值。

　　2 短路測(cè)試

　　測(cè)試儀可快速測(cè)出各型電路板或功能模塊的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間是否存在短路(靜態(tài)阻抗小于10Ω)。

　　3 激勵(lì)源選擇

　　測(cè)試儀具有交、直流信號(hào)激勵(lì)源選擇功能，根據(jù)測(cè)試需要選擇采用交流或直流信號(hào)作為測(cè)試激勵(lì)源。

　　4 屏蔽點(diǎn)功能

　　測(cè)試儀可屏蔽各型電路板或功能模塊中任意不需測(cè)量的引腳,對(duì)已屏蔽的引腳不加電,提高測(cè)試的安全性。

　　5 單點(diǎn)循跡功能

　　采用單點(diǎn)測(cè)試筆接觸電路板或功能模塊中的任一焊點(diǎn)，即可快速測(cè)量單點(diǎn)測(cè)試筆與被測(cè)件插頭座中任一引腳之間的阻抗，快速判斷器件或電路的狀態(tài);也可連接兩只單點(diǎn)測(cè)試筆，測(cè)量任意兩支筆接觸的器件引腳或焊點(diǎn)之間的阻抗值。

　　6 單點(diǎn)(語音提示)測(cè)試功能

　　在進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)試時(shí)可選擇給出聲音提示，減輕操作者的工作強(qiáng)度，提高了測(cè)試效率。

　　7 查分線測(cè)試功能

　　在導(dǎo)通測(cè)試模式下，測(cè)試儀具有查線、分線、短路功能。

　　8 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)建立

　　采用自學(xué)習(xí)方式，對(duì)已確認(rèn)完好的各型電路板或功能模塊進(jìn)行測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果保存即可建立測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。

　　9 自檢功能

　　測(cè)試儀可快速對(duì)開關(guān)通路是否正常進(jìn)行自檢;對(duì)各項(xiàng)測(cè)試功能及精度進(jìn)行自檢，并形成自檢報(bào)告。

　　10 參數(shù)設(shè)置功能

　　測(cè)試儀具有參數(shù)設(shè)置功能如：測(cè)試點(diǎn)數(shù)(芯數(shù))、電阻門限標(biāo)準(zhǔn)、激勵(lì)源參數(shù)等。

　　11 保護(hù)報(bào)警

　　測(cè)試儀具有自檢測(cè)試異?；驕y(cè)試結(jié)果異常的保護(hù)報(bào)警功能，并給出聲、光報(bào)警信號(hào)，形成出錯(cuò)信息表。

　　12計(jì)量校準(zhǔn)

　　當(dāng)測(cè)試儀出現(xiàn)測(cè)量誤差或需要定期計(jì)量、校驗(yàn)時(shí)，可進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　13 輔助功能

　　幫助：在測(cè)試畫面的標(biāo)題欄中設(shè)置“幫助”信息欄，顯示幫助信息易于學(xué)習(xí)掌握。

　　顯示：以表格及圖形(曲線)方式直觀、詳細(xì)的顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。

　　保存：測(cè)試數(shù)據(jù)可根據(jù)需要保存、導(dǎo)出到指定目錄，也可輸出打印。

　　查詢：可按索引條目查詢測(cè)試結(jié)果。

　　14 數(shù)據(jù)通信

　　測(cè)試儀設(shè)置有網(wǎng)絡(luò)端口，可以連接外部計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)局域網(wǎng)的數(shù)據(jù)交互。

　　阻抗分析儀應(yīng)用：

　　適用于對(duì)電子產(chǎn)品中的制造單位在常態(tài)下及環(huán)境試驗(yàn)條件下，對(duì)各型電路板或功能模塊(多個(gè)電路板組成的具有一定功能的電氣單元)的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間的靜態(tài)、動(dòng)態(tài)阻抗參數(shù)進(jìn)行快速檢驗(yàn)、測(cè)試、分析的場(chǎng)合使用。