介電常數(shù)測試儀規(guī)格，介電常數(shù)測試儀報(bào)價

　　涉及PCB板檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種PCB板的介電常數(shù)檢測方法。

　　背景技術(shù)：

　　高頻高速板具有傳輸速度快、損耗低的特點(diǎn)，目前廣泛應(yīng)用在3G/4G通信基站、平板電腦以及智能手機(jī)等方面。伴隨更方便、快捷的信息服務(wù)需求，如云計(jì)算處理器的開發(fā)，對材料的介電性能提出了更高的要求，在阻抗設(shè)計(jì)與控制中，介電常數(shù)對預(yù)算阻抗值和設(shè)計(jì)傳輸線有關(guān)參數(shù)起關(guān)鍵性作用。

　　例如，高速信號線都有一定的阻抗要求，但目前PCB板設(shè)計(jì)時都是根據(jù)板廠給出的介電常數(shù)進(jìn)行計(jì)算，但由于表面高速信號傳輸上面為空氣，下面為PCB板，根據(jù)板廠給出的介電常數(shù)進(jìn)行計(jì)算得到的計(jì)算結(jié)果僅是理論值，而不是實(shí)際的有效值，這樣就會造成阻抗的偏差，會帶來信號完整性的問題。

　　通常業(yè)界的做法，一是直接使用板廠給出介電常數(shù)值;二是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)值計(jì)算有效介電常數(shù)，這些做法都存在上述問題。

　　技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

　　針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明提供了一種PCB板的介電常數(shù)檢測方法。

　　本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：

　　一種PCB板的介電常數(shù)檢測方法，其特征在于，包括：

　　步驟S1、提供一布局有信號線路的PCB板;

　　步驟S2、采用一時域反射計(jì)(Time-Domain Reflectometry，TDR)測量并根據(jù)下述公式處理得到所述PCB板的介電常數(shù)

　　其中，

　　εr用于表示所述介電常數(shù);

　　c用于表示光速;

　　v用于表示所述信號傳輸速度。

　　優(yōu)選的，所述步驟S2包括：

　　步驟S21、采用所述時域反射計(jì)對所述PCB板進(jìn)行測量以得到所述PCB板上的所述信號傳輸速度;

　　步驟S22、根據(jù)所述信號傳輸速度和所述公式處理得到所述PCB板的所述介電常數(shù)。

　　優(yōu)選的，所述步驟S21包括：

　　步驟S211、采用所述時域反射計(jì)對所述PCB板進(jìn)行測量以得到對應(yīng)所述信號線路的傳輸時間，所述傳輸時間對應(yīng)所述預(yù)設(shè)走線長度;

　　步驟S212、根據(jù)所述預(yù)設(shè)走線長度和所述傳輸時間處理得到所述信號傳輸速度。

　　優(yōu)選的，所述步驟S12中，采用下述公式處理得到所述信號傳輸速度：

　　v=2s/t

　　其中，

　　v用于表示所述信號傳輸速度;

　　s用于表示所述預(yù)設(shè)走線長度;

　　t用于表示所述傳輸時間。

　　優(yōu)選的，所述步驟S2中所述光速c=11.8mil/ps。

　　優(yōu)選的，所述介電常數(shù)檢測方法還包括：

　　步驟S3、通過比較所述介電常數(shù)與預(yù)設(shè)介電常數(shù)以判斷所述預(yù)設(shè)介電常數(shù)是否準(zhǔn)確并輸出判斷結(jié)果。

　　本發(fā)明的有益效果是：能夠準(zhǔn)確計(jì)算PCB板的介電常數(shù)，提高后續(xù)阻抗計(jì)算的準(zhǔn)確性。

　　圖1為本發(fā)明的一種優(yōu)選實(shí)施例中，PCB板的介電常數(shù)檢測方法的流程圖;

　　圖2為本發(fā)明的一種優(yōu)選實(shí)施例中，步驟S2的流程圖;

　　圖3為本發(fā)明的一種優(yōu)選實(shí)施例中，步驟S21的流程圖。

　　具體實(shí)施方式

　　需要說明的是，在不沖突的情況下，下述技術(shù)方案，技術(shù)特征之間可以相互組合。

　　下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步的說明：

　　如圖1所示，一種PCB板的介電常數(shù)檢測方法，包括：

　　步驟S1、提供一布局有信號線路的PCB板;

　　步驟S2、采用一時域反射計(jì)測量并根據(jù)下述公式處理得到上述PCB板的介電常數(shù)

　　其中，

　　εr用于表示上述介電常數(shù);

　　c用于表示光速;

　　v用于表示上述信號傳輸速度。

　　在本實(shí)施例中，通過TDR測量能夠準(zhǔn)確計(jì)算PCB板的介電常數(shù)，提高后續(xù)阻抗計(jì)算的準(zhǔn)確性。

　　如圖2所示，本發(fā)明較佳的實(shí)施例中，上述步驟S2包括：

　　步驟S21、采用上述時域反射計(jì)對上述PCB板進(jìn)行測量以得到上述PCB板上的上述信號傳輸速度;

　　步驟S22、根據(jù)上述信號傳輸速度和上述公式處理得到上述PCB板的上述介電常數(shù)。

　　如圖3所示，本發(fā)明較佳的實(shí)施例中，上述步驟S21包括：

　　步驟S211、采用上述時域反射計(jì)對上述PCB板進(jìn)行測量以得到對應(yīng)上述信號線路的傳輸時間，上述傳輸時間對應(yīng)上述預(yù)設(shè)走線長度;

　　步驟S212、根據(jù)上述預(yù)設(shè)走線長度和上述傳輸時間處理得到上述信號傳輸速度。

　　本發(fā)明較佳的實(shí)施例中，上述步驟S12中，采用下述公式處理得到上述信號傳輸速度：

　　v=2s/t

　　其中，

　　v用于表示上述信號傳輸速度;

　　s用于表示上述預(yù)設(shè)走線長度;

　　t用于表示上述傳輸時間。

　　本發(fā)明較佳的實(shí)施例中，上述步驟S2中c=11.8mil/ps。

　　本發(fā)明較佳的實(shí)施例中，上述介電常數(shù)檢測方法還包括：

　　步驟S3、通過比較上述介電常數(shù)與預(yù)設(shè)介電常數(shù)以判斷上述預(yù)設(shè)介電常數(shù)是否準(zhǔn)確并輸出判斷結(jié)果。

　　在本實(shí)施例中，通過TDR(Time Domain Reflectometry)測量PCB板上的傳輸時間，然后計(jì)算出信號在PCB上的信號傳輸速度，進(jìn)而計(jì)算出有效的介電常數(shù)。

　　利用TDR測試儀，可以測量電信號經(jīng)過特定長度(預(yù)設(shè)走線長度)PCB走線長度s的時間t，所以信號的傳輸速度為v=2s/t(長度s的單位為mil，時間t單位為ps，速度v的單位為mil/ps)。

　　由于信號在PCB中的傳輸速度可以采用下述公式計(jì)算得到

　　所以可以通過下述公式計(jì)算出有效介電常數(shù)

　　通過計(jì)算有效的介電常數(shù)，可以推斷設(shè)計(jì)阻抗是否正確，并且檢驗(yàn)板廠給出的預(yù)設(shè)介電常數(shù)是否準(zhǔn)確。

　　蚌埠市介電常數(shù)測試儀， 六安市介電常數(shù)測試儀， 江蘇省儀征市介電常數(shù)測試儀

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