阻抗分析儀測(cè)阻抗電容
使用阻抗分析儀測(cè)量電容器時(shí),Q和D出現(xiàn)了負(fù)值,我該如何處理呢?
對(duì)于低損耗器件(高Q、低D)來說,在LCR表/阻抗分析儀上通常不會(huì)出現(xiàn)負(fù)讀數(shù)。請(qǐng)注意負(fù)讀數(shù)在物理上是不可能的(對(duì)于無源元件),下面的內(nèi)容解釋了出現(xiàn)負(fù)讀數(shù)的原因。
測(cè)量細(xì)節(jié):
是德阻抗分析儀和LCR表測(cè)量被測(cè)件(DUT)的電壓(V)和電流(I)。
Z(阻抗是一個(gè)復(fù)數(shù))可通過公式計(jì)算: Z = V/I.
然后,儀器通過數(shù)學(xué)計(jì)算得出Z的實(shí)部和虛部(根據(jù)Z的幅度和θ角)。
對(duì)于實(shí)際的(而不是理論的)電容器,其元件模型如下圖所示。
Q = 1/D = -Xc/R
這樣,Z = R – jXc.此處的R為元器件的測(cè)量損耗。
測(cè)量實(shí)例:
測(cè)量值:|Z| = 100.001 Ω
Xc = 100 Ω
R = 0.5 Ω
如果|Z|的不確定度為1%,那么|Z| = 100.001 ± 1 Ω?。根據(jù)Z和R的值,R的不確定度為200%(根據(jù)比率,D = X/R)。這樣R的值就會(huì)在-0.5 Ω?至1.5 Ω?之間,R的顯示值(Q或D同樣如此)也就可能為負(fù)。
有關(guān)Z、R、X、D、Q等測(cè)量不確定度計(jì)算的詳細(xì)情況,請(qǐng)參考專門的LCR表或阻抗分析儀的用戶指南。